粉体粒度检测方法（气流磨硅灰、氧化铝、特氟龙粉体适用）

1 激光粒度仪（湿法 / 干法，车间最常用）

湿法激光粒度仪

• 适用：不易溶于水、容易分散粉体；氧化铝、硅灰、无机矿物粉体

• 介质：纯水、乙醇；可添加少量分散剂消除团聚

• 优点：测试稳定、重复性好，数据可靠；适合亚微米‑几十微米粉体

• 缺点：对疏水物料（特氟龙 PTFE 粉体）在水中难浸润，容易浮在水面，分散差，结果失真；样品需要制样。

干法激光粒度仪

• 适用：怕遇水、易团聚粉体；特氟龙、改性粉体、气流磨成品

• 原理：压缩空气喷射把粉体打散，直接进光路检测

• 优点：无需溶剂，制样简单，接近实际生产粉体状态

• 缺点：轻质粉体容易过粉碎；分散气压设置对结果影响很大；耗材成本更高。

1. 样品必须充分分散，团聚会测出粒度偏大；

2. 硅灰超细粉体，湿法务必添加分散剂、超声；

3. 同一物料固定统一测试条件（介质、超声时间、浓度、干法压力），方便前后批次对比。

2 沉降法（重力沉降 / 离心沉降粒度仪）

• 适用：无机矿物、金属粉体；0.1‑100μm

• 优点：成本低；符合部分传统行业标准

• 缺点：测试时间长；颗粒密度对结果影响大；不适合低密度特氟龙；重复性一般，现在工厂逐步被激光粒度替代。

3 筛分法（振筛、负压筛）

• 适用：粗粉，＞45μm 以上；不适合气流磨超细粉（D50 几微米级别），超细粉体容易堵筛网。

• 优点：操作简单，成本低；现场快速粗筛查

• 缺点：无法得到连续粒度分布；亚微米、几微米超细粉体基本测不准；超细粉体易团聚糊筛网。

4 显微镜法（光学显微镜 / SEM 扫描电镜）

• 光学显微镜：适合几微米以上颗粒

• SEM 扫描电镜：可以看亚微米形貌、真实颗粒形态，能观察团聚情况

• 优点：可以直观看到颗粒形貌，分辨是真实大颗粒还是软团聚；可拍报告照片

• 缺点：统计颗粒数量有限，代表性差，一般不作为批量粒度判定依据，用作辅助验证，不用于日常出厂检测。

5 透气法（勃氏透气比表面积仪）

• 适用：水泥、硅灰、矿物粉体

• 优点：设备便宜，测试速度快

• 缺点：只得到平均比表面积，得不到 D50、粒度分布；仅参考，不能替代激光粒度。

各物料推荐检测方案（结合你气流磨产品）

粒度取样关键要求（气流磨现场，很重要，写进作业指导）

1. 取样点：成品出料口、料仓；禁止在料仓表层随便舀样，粉体容易分级，大颗粒下沉，细粉上浮；

2. 多点取样混合缩分，保证样品具备代表性；

3. 取样后密封，防止吸潮、污染；尽快完成测试；

4. 每一批次测试至少做 2 次平行试验，对比 D50 偏差，确认结果有效。

常见检测误区

1. 特氟龙粉体不要用水湿法测试，颗粒浮于水面，测出来粒度严重偏大；优先干法。

2. 超细硅灰不建议筛分法，筛网堵塞，数据无效。

3. SEM 电镜只能看形貌，少量颗粒，不能用来判定整批成品粒度。